1、首先是測試方法的選擇。

    理想的情況是器件在老化制程上花費的時間最少，這樣可以提高總體產量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現，因此能快速進行反復測試的系統可減少總體老化時間。每單位時間里內部節點切換次數越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現得更快。

2、老化板互連性、PCB設計以及偏置電路的復雜性。

    老化測試系統可能被有些人稱為高速?測試，但是，如果機械連接或老化板本身特性會削弱信號質量，那么測試速度將會是一?個問題。如像過多機電性連接會增大整個系統的總電容和電感、老化板設計不良會產生?噪聲和串擾、而很差的引腳驅動器設計則會?使快速信號沿所需的驅動電流大小受到限?制等等，這些都僅是一部份影響速度的瓶頸，另外由于負載過大并存在阻抗、電路偏?置以及保護組件值的選擇等也會使老化的性能受到影響。

3、對高速測試儀程序的下載及轉換能力。

    有些老化測試系統有自己的測試語言，對需要做{bfb}節點切換的被測器件不用再開發程序；而有些系統能夠把高速測試儀程序直接轉換到老化應用上，可以在老化過程中進行更準確的測試。

4、系統提供參數測試的能力。

    如果老化測試系統能進行一些速度測試，那么還可得到其他一些相關失效數據以進行可靠性研究，這也有助于精簡老化后測試制程。

5、根據時間動態測試參數的能力，如電壓與頻率。

    如果老化測試系統能夠實時改變參數，則可以加快通常屬于產品壽命后期階段故障的出現。對于某些器件結構，直流電壓偏置及動態信號的功率變動都可加速出現晚期壽命故障。