1、首先是測試方法的選擇。

    理想的情況是器件在老化制程上花費的時間最少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現(xiàn)，因此能快速進行反復(fù)測試的系統(tǒng)可減少總體老化時間。每單位時間里內(nèi)部節(jié)點切換次數(shù)越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現(xiàn)得更快。

2、老化板互連性、PCB設(shè)計以及偏置電路的復(fù)雜性。

    老化測試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速?測試，但是，如果機械連接或老化板本身特性會削弱信號質(zhì)量，那么測試速度將會是一?個問題。如像過多機電性連接會增大整個系統(tǒng)的總電容和電感、老化板設(shè)計不良會產(chǎn)生?噪聲和串?dāng)_、而很差的引腳驅(qū)動器設(shè)計則會?使快速信號沿所需的驅(qū)動電流大小受到限?制等等，這些都僅是一部份影響速度的瓶頸，另外由于負載過大并存在阻抗、電路偏?置以及保護組件值的選擇等也會使老化的性能受到影響。

3、對高速測試儀程序的下載及轉(zhuǎn)換能力。

    有些老化測試系統(tǒng)有自己的測試語言，對需要做{bfb}節(jié)點切換的被測器件不用再開發(fā)程序；而有些系統(tǒng)能夠把高速測試儀程序直接轉(zhuǎn)換到老化應(yīng)用上，可以在老化過程中進行更準確的測試。

4、系統(tǒng)提供參數(shù)測試的能力。

    如果老化測試系統(tǒng)能進行一些速度測試，那么還可得到其他一些相關(guān)失效數(shù)據(jù)以進行可靠性研究，這也有助于精簡老化后測試制程。

5、根據(jù)時間動態(tài)測試參數(shù)的能力，如電壓與頻率。

    如果老化測試系統(tǒng)能夠?qū)崟r改變參數(shù)，則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現(xiàn)。對于某些器件結(jié)構(gòu)，直流電壓偏置及動態(tài)信號的功率變動都可加速出現(xiàn)晚期壽命故障。